Interface Charge Trap Density of Solution Processed Ferroelectric Gate Thin Film Transistor Using ITO/PZT/Pt Structure

http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/33013

Title: Interface Charge Trap Density of Solution Processed Ferroelectric Gate Thin Film Transistor Using ITO/PZT/Pt Structure
Authors: Pham, Van Thanh
Bui, Nguyen Quoc Trinh
Miyasako, Takaaki
Keywords: Ferroelectric;Metal-ferroelectric-semiconductor;Indium-tin oxide (ITO);Ferroelectric gate thin film transistor (FGT);Conductance method
Issue Date: 2013

Nhận xét

Đăng nhận xét

Bài đăng phổ biến từ blog này

NẤM LỚN Ở VIỆT NAM, Tập 1

http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/11081 Title: NẤM LỚN Ở VIỆT NAM, Tập 1Authors:  GS.TSKH Trịnh Tam Kiệt Issue Date: 2011Publisher: Nhà xuất bản Khoa hoc Tự nhiên và Công nghệURI:  http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/11081 Appears in Collections: IMBT - Bài đăng tạp chí / Tham luận HN-HT
Đọc thêm

Xác định lượng vết Selen bằng phương pháp Von- Ampe hòa tan catot xung vi phân khi có mặt Rh

http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/25666 Title:  Xác định lượng vết Selen bằng phương pháp Von- Ampe hòa tan catot xung vi phân khi có mặt Rh Other Titles:  Ultratrace determination of Selenium (IV) by cathodic stripping voltammetry tn the presence of Rhodium Authors:  Trần, Chương Huyến Lê, Thị Hương Giang Keywords:  Hóa phân tích;Phương pháp von-ampe Issue Date:  2004 Publisher:  Đại học Quốc gia Hà Nội
Đọc thêm